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使用金像测量显微镜有哪些方法呢?
时间:2017-07-21 点击次数:1117
金像测量显微镜是采用用透、反射的方式对工件长度和角度作密测量。别适用于录象磁头、大规模集成电路线宽以及其它密零件的测试仪器。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。那么使用金像测量显微镜有哪些方法呢?
1.使用金像测量显微镜
影像法是利用显微镜中间的十字线标记,对影像进行瞄准定位的测量方法。测量时,通过十字线标记瞄准测量物体的影像边缘,并在读数显镜上读出数值,然后移动工作台以同条刻线瞄准测量物体的另边,再作二次读数。两次读数的差,是被测量物体的测量值。
2.使用显微镜的轴切法
轴切法是利用中央显微镜的标记对通过测件轴心线并利用测量刀上的刻线进行瞄准定位的自动化测量系统方法。其表面有刻线,刻线刃口的尺寸为0.3和0.9毫米两种,测量时,把测量刀放在测量刀垫板上,刻线面通过测件的轴线,并使测刀的刃口和被测面紧紧接触,用相应的米字线去瞄准,测量两把测刀刻线间的距离,间接测得被测件的测量值。为了避免测量中的计算,在中间垂直米字线的两侧刻有两组共四条对称分布的平行线,每组刻线对刻线的距离分别为0.9和2.7毫米,它正是测刀的刃口到刻线间的距离0.3和0.9毫米的3倍。这样用3倍物镜瞄准时,分划板上的0.9和2.7毫米刻线正压住测刀上的0.3和0.9毫米刻线,这时测刀上的刃口正被米字线的中间刻线所瞄准。
3.使用金像测量显微镜显微镜接触法
接触法是利用显微镜的标记对和紧靠测件测量点、线、面。测量时将光学测孔器的测头紧靠件(内、外)表面。当测量孔径时,先使测头与测件内孔接触,取得大弦长后,使米字线中间刻线被光学测孔器的双套线套在中间,并在读数显微镜读取数;然后改变测量方向,使测头在另侧与测件接触,同样使米字线分划板的中间刻线仍被光学测孔器的双套线套在中间,在读数显微镜上读取另数。两次读数的差,再加上测头直径的实际值,即为测件的内尺寸,如减去测头直径的实际值,即为测件的外尺寸。 

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